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CMX DL+超聲波測厚儀

更新時(shí)間:2020-06-03      點(diǎn)擊次數:1287

美國達高特CMX DL+超聲波測厚儀

The CMX DL+ 測厚儀不僅有MVX的所有功能,而且還有同時(shí)測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。

美國達高特CMX DL+超聲波測厚儀特點(diǎn)

  • 測量方式(僅測量基體厚度、同時(shí)測量基體和涂層的厚度、僅測量涂層厚度)

  • 顯示模式(數字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>)

  • 增益可調節:超低、低、中、高、超高

  • 增益值可到110dB

  • 自動(dòng)增益控制(AGC)

  • 時(shí)間增益校正(TCG)

  • 探頭自動(dòng)識別,自動(dòng)調零和溫度補償

  • Z大值、Z小值顯示

  • 可存儲64個(gè)用戶(hù)參數設置

  • 高速掃查(50次/秒)

  • 高達140HZ的脈沖重復頻率

  • B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀

  • A掃描波形顯示和RF顯示(CMX DL+)

  • 差值測量模式

  • 高速掃查功能可用于快速找到壁厚的Z小值

  • 上/下限聲光報警功能

  • 數據存貯:可存儲21000個(gè)測量厚度值或者16000個(gè)測量厚度值和B掃描圖形及參數

  • 可通過(guò)軟件與計算機進(jìn)行數據交換,方便用戶(hù)打印檢測報告

美國達高特CMX DL+超聲波測厚儀參數;

鍵盤(pán)

12鍵按鍵

測量范圍

界面波-底波(P-E)方式:0.63-508mm

帶自動(dòng)溫度補償的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm

多層測量(PECT)方式:0.63-508mm(基體) 0.01-2.54mm(表面涂層)

穿透涂層測量(E-E)模式:2.54—102mm(因涂層的不同會(huì )有所變化)

僅測量涂層(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂層的不同會(huì )有所變化)

顯示精度

0.01mm(可方便的進(jìn)行公制和英制的轉換)

聲速范圍

1250-13995m/s

工作溫度

-10℃—60℃

探頭類(lèi)型

1—10MHZ雙晶探頭

探頭接口

LEMO“00”,可以使用MX、MMX系列測厚儀的探頭

通訊接口

RS232接口(配備USB轉RS232接頭)

電池工作時(shí)間

150小時(shí)(3節5號堿性電池)100小時(shí)(3節5號鎳鎘電池)

省電功能

5分鐘無(wú)任何操作后能自動(dòng)關(guān)機

顯 示 屏

62X45.7mm(240 X 160像素),大數字厚度值顯示(厚度值數字高度可達17.78mm)

外觀(guān)尺寸

63.5X165X31.5 mm

重量

382 g

顯示精度

合金外殼

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